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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen, Peter Baumann
- Idioma
- Publicado en
- 2024
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- (Tapa blanda)
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- Título
- Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
- Subtítulo
- Simulation mit PSPICE
- Idioma
- Alemán
- Autores
- Peter Baumann
- Editorial
- Springer Fachmedien Wiesbaden
- Publicado en
- 2024
- Formato
- Tapa blanda
- Páginas
- 262
- ISBN10
- 3658438207
- ISBN13
- 9783658438203
- Serie
- Etiquetas
- No ficción, Arte / Cultura, Tecnología & Ingeniería, Arquitectura, Arquitectura y urbanismo
- Descripción
- Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.