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Herstellung und Analyse vergrabener Nitrid-Schichten in Si/SiO2/SIMOX-Systemen mittels Ionenstrahlmethoden

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Herstellung und Analyse vergrabener Nitrid-Schichten in Si/SiO2/SIMOX-Systemen mittels Ionenstrahlmethoden, Diethelm Fröse

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1995
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