El libro está agotado actualmente
Más información sobre el libro
(ii) Fine characterization down to the atomic scale using recently devel- oped, powerful techniques such as scanning tunneling microscopy, high reso- lution transmission electron microscopy, glancing incidence x-ray diffraction, x-ray standing waves, surface extended x-ray absorption fine structure and surface extended energy-loss fine structure.
Compra de libros
Semiconductor Interfaces: Formation and Properties, Autores varios
- Idioma
- Publicado en
- 2011
Te avisaremos por correo electrónico en cuanto lo localicemos.
Métodos de pago
Nadie lo ha calificado todavía.