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Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau, Manuela Klaus
- Idioma
- Publicado en
- 2009
- Encuadernación
- (Tapa blanda)
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- Título
- Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau
- Idioma
- Alemán
- Autores
- Manuela Klaus
- Editorial
- Univ.-Verl. der TU Berlin
- Publicado en
- 2009
- Formato
- Tapa blanda
- Páginas
- 117
- ISBN10
- 3798321450
- ISBN13
- 9783798321458
- Serie
- Etiquetas
- Libros de texto universitarios, Rayos X